首页
电镜制样
扫描电镜(SEM)制样 透射电镜(TEM)制样
薄膜量测
半导体薄膜量测 硬质涂层量测
薄膜制备
资讯中心
产品资讯 公司资讯 行业资讯
关于我们
公司简介 联系我们
CN
EN
Accurate measurement of thin films
薄膜精准量测
我们从性能参数、使用体验、价格和产品可靠性等多个维度综合考量，力求在薄膜量测场景提供BKM（ Best Known Method ）解决方案，为薄膜工艺制程保驾护航。
半导体薄膜量测
Semiconductor thin film measurement
FST 5000 薄膜应力测量仪
  • 双波长扫描
  • 全自动测量
  • 高性价比
FST 6000 在线薄膜应力测量仪
  • 高通量的工艺控制需求方案
  • 双波长扫描
  • 全自动测量
硬质涂层量测
Hard coating measurement
FST1000 薄膜应力测量仪
  • 易操作
  • 全自动测量
  • 高性价比
BCT1000 球坑测厚仪
  • 专用球坑测量软件
  • 精密的机械部件
  • 高性价比
电镜制样
薄膜量测
薄膜制备
资讯中心
关于我们
0755-26642901
（9:00 - 18:00 周一到周五）
地址：
深圳市南山区南山街道桂庙路北向南瑞峰商业广场B2009
公众号
微信小程序
Copyright ©1995 - 2024 深圳市速普仪器有限公司 粤ICP备14079756565 技术支持: 深圳网站建设