CN
FST 6000 在线薄膜应力测量仪
可测量晶圆类光电薄膜样品的弓高、翘曲、轮廓形貌、曲率半径和薄膜应力
1高通量的工艺控制需求方案
2 双波长扫描
3 全自动测量
留言咨询
如果您想要了解更多产品信息、预约测样或者咨询售后服务,在线给我们留言, 我们收到您的留言信息后将第一时间回复您!
*
*
*
*
预约试用
如果您想要了解更多产品信息,在线给我们留言预约试用, 我们收到您的留言信息后将第一时间联系您!
*
*
*
试用产品:
*
*
产品介绍
Product Introduction
基于经典基片弯曲法Stoney公式测量原理,采用先进的激光扫描方式和探测技术,以及智能化的操作,使得FST5000薄膜应力仪特别适合于晶圆类光电薄膜样品的弓高、翘曲、轮廓形貌、曲率半径和薄膜应力测量和计算。