球坑测厚仪采用一种简易实用的镀层厚度测试方法,主要用于膜层厚度大于1微米的硬质膜、固体润滑膜、陶瓷膜、金属膜等各种膜层的检测。对样品要求不高,建议采用20*30*2mm的平面样片。详细使用答疑请至产品页下载FAQ查阅。
薄膜应力测量仪是基于基片弯曲法原理,利用Stoney方程,用于能反射激光的各种刚性基本表面的薄残余应力的测试,样片要求长宽比在5:1-10:1的长方形薄片(厚1-2mm)。